Fachtagung Technische Sauberkeit
Bauteilreinigungsverfahren und Extraktionsmethoden an Elektrobauteilen
19. Juli 2022 | ZVEI-Konferenzzentrum in Frankfurt a.M.
Partikelverunreinigungen von Bauteilen können zu erheblichen Schwierigkeiten beim Betrieb von Anlagen führen. Elektrische Kurzschlüsse, mechanische Blockaden, Undichtigkeiten, optische Schwächungen beziehungsweise Unterbrechungen von Lichtleitern sind einige der Funktionsstörungen, die durch metallische oder nichtmetallische Partikel entstehen können. Angesichts der zunehmenden Miniaturisierung von Bauteilen und des Anstiegs der Bauteildichte, setzen die Hersteller in der elektrotechnischen Fertigung die Optimierung ihrer sauberkeitsrelevanten Fertigungsprozesse kontinuierlich fort.
Der sich abzeichnende Hochlauf der Elektromobilität stellt die Zuliefererindustrie vor neue Herausforderungen: Etablierte Prüfmethoden und Reinigungsverfahren in der Technischen Sauberkeit müssen angesichts der gestiegenen Anforderungen an Robustheit und Qualität verbauter Elektronikbauteile, einer Effizienz- und Machbarkeitsprüfung standhalten. Inwieweit können gängige flüssige und spritzende Extraktionsverfahren mit den trockenen Abblas- und Absaugverfahren verglichen werden, da für elektronische Baugruppen eher trockene Techniken zum Einsatz kommen? Welche Reinigungsverfahren eignen sich am besten für elektronische Komponenten? Der Arbeitskreis Bauteilsauberkeit des ZVEI liefert hierzu aktuelle Ergebnisse aus zwei groß angelegten Studien zu Extraktionsverfahren und Vergleichsstudien zu Reinigungsverfahren an sechs verschiedenen elektrotechnischen Bauteilen.
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IHR TEAM DER ZVEI-AKADEMIE
Das Programm 2022
Ihr Tagungsleiter: Volker Burger, CEO, CleanControlling
| ab 9:00 | Begrüßung durch den Tagungsleiter |
| 09:15 | Ziel und Rahmenbedingung der Reinigungs- und Extraktionsverfahren Vorstellung der Partner Andreas Zitz, Principal Engineer, TE Connectivity |
| 09:30 | Beschreibung der Reinigungstechnologien der Firmen ACP bzw. IPA – Beschreibung der Reinigung an den jeweiligen Bauteilen – Filmdokumentation der Reinigung – Parameter der Reinigung Dr. Günther Schmauz, Vorstand, acp systems Beschreibung der Reinigungstechnologien mittels ionisierter Druckluft Andreas Zitz, Principal Engineer, TE Connectvity |
| 10:30 | Pause |
| 10:50 | Beschreibung der Reinigungstechnologien der Firmen ZESTRON bzw. ELMA – Beschreibung der Reinigung an den jeweiligen Bauteilen – Filmdokumentation der Reinigung – Parameter der Reinigung Thomas Kirchner, Process Engineer, ZESTRON Beschreibung der Reinigungstechnologie bei der Firma kolb Cleaning Technology Bert Schopmans, Leiter Vertrieb/ Anwendungstechnik, kolb Cleaning Technology |
| 11:50 | Wichtiges zur Prüfung der Bauteile
Yasemin Müller, Consulting Analytik, CleanControlling |
| 12:05 | Vorstellung der Analyseergebnisse mit detaillierten Auswertungen
Frank Petri, Technische Sauberkeit und Stammdaten, KOSTAL Kontakt Systeme |
| 12:50 | Mittagspause |
| 13:50 | Diskussion der Daten und Auswertungen
Moderation: Volker Burger, CEO CleanControlling |
| 14:50 | Vorstellung der Extraktionsmethoden – Filmdokumentation der Extraktionsmethode – Parameter der Prüfung Yasemin Müller, Consulting Analytik, CleanControlling |
| 15:20 | Vorstellung der Analyseergebnisse mit detaillierten Auswertungen – Vorstellung der Zusatzstudie Prüfung auf Normalverteilung Dr. Andreas Früh, Prüfleiter, CleanControlling |
| 15:50 | Pause |
| 16:10 | Diskussion der Daten und Auswertungen
Moderation: Volker Burger, CEO CleanControlling |
| 17:10 | Abschluss – Folgerungen aus den Studien und Diskussionen – Weiter Aktivitäten für den AK |
| 17:30 | Wrap up und Ende der Fachtagung |
Zielgruppe
Die Konferenz richtet sich an Leiter und leitende Angestellte aus den Bereichen Qualitätsmanagement, Produktion, Produktionsplanung, Produktmanagement, Verfahrenstechnik bzw. -management aus der Elektronik- und Elektrotechnikindustrie. Die Veranstaltungen sind zudem interessant für alle Mitarbeiter aus der Baugruppen-Produktion und der Platinenfertigung.
Warum Sie teilnehmen sollten
- Sie erhalten exklusive Studienergebnisse aus zwei groß angelegten Vergleichsstudien zum Extraktionsverfahren und zu Bauteilreinigungsverfahren
- Sie lernen die neuesten technologischen Möglichkeiten in der mikroskopischen Partikelanalyse kennen
- Sie erfahren, vor welchen Herausforderungen die Technische Sauberkeit im Zeitalter der Elektromobilität stehen wird
- Sie erhalten die einzigartige Möglichkeit an nur einem Tag mit den führenden Experten der Technischen Sauberkeit in einen Wissens- und Erfahrungsaustausch zu treten
- Sie bekommen Wissen aus jahrzehntelanger Erfahrung in der industriellen Praxis und können dies gewinnbringend in ihrem Arbeitsalltag einsetzen
Termin
19. Juli 2022
Veranstalter
ZVEI-Services GmbH (ZSG)
ZVEI Akademie
Lyoner Straße 9
60528 Frankfurt am Main
Fon: 069 6302-200
Fax: 069 6302-482
Ort
ZVEI-Konferenzzentrum
Lyoner Straße 9
60528 Frankfurt am Main
Tel: 069 6302-200
Teilnahmegebühren:
€ 790,- zzgl. MwSt.
zzgl. 19% MwSt. pro Teilnehmer
Die Teilnahmegebühr beinhaltet den Besuch der Tagung, sowie Mittagessen und Getränke.
Die Hotelübernachtung ist nicht im Preis enthalten.
Bis 30 Tage vor Veranstaltung können Sie kostenfrei stornieren, oder jederzeit einen Ersatzteilnehmer kostenlos anmelden
Es gelten die allgemeinen Geschäftsbedingungen der ZVEI-Services GmbH (ZSG).
Bitte beachten Sie, dass bei dieser Veranstaltung Foto- und Filmaufnahmen erstellt werden. Falls Sie nicht abgebildet werden möchten, wird darum gebeten, dies bitte direkt vor Ort dem Fotografen mitzuteilen.
Wir danken den Partnern der Fachkonferenz „Technische Sauberkeit 2022″
Ihr Ansprechpartner
Sie interessieren sich für ein Sponsoring auf einer unserer Veranstaltungen?
Sie haben einen interessanten Use-Case, den Sie als Vortrag präsentieren möchten? Sprechen Sie mich gerne an.
Ferhat Avsar
ZVEI-Akademie Konferenzmanager
Telefon: +49 (0)69 6302-323
E-Mail: ferhat.avsar@zvei.org
Das sagen unsere Partner zur Konferenz „Technische Sauberkeit 2021“
Rückblicke der vergangenen Konferenzen
| ab 9:00 | Begrüßung durch den Tagungsleiter |
| 09:05 | Keynote Technische Sauberkeit & Künstliche Intelligenz – Mehrwert der KI – Ein TC-nahes Anwendungsbeispiel – Forschungsansätze – Erste Ergebnisse – Ausblick Harald Fritzsche, Technical Executive, Continental Automotive |
| 09:35 | Herausforderungen der Technischen Sauberkeit: Gestern – Heute – Morgen – Wissensbasierte Ansätze – Anforderungen vs. Machbarkeit Dr. Marc Nikolussi, Head of Engineering Assembly and Interconnect Technology, Robert Bosch |
| 10:00 | Elektromobilität – neue Herausforderungen für die Prüfung der Technischen Sauberkeit – Trockenextraktion – Automatisierte Extraktion – Materialanalysen REM/EDX Dr. Markus Rochowicz, Gruppenleiter Reinheitstechnik, Fraunhofer IPA |
| 10:30 | Impulsvortrag Vorstellung der Arbeitskreis-Studie Effektivität von Extraktions- und Reinigungsverfahren – Beteiligte Unternehmen – Motivation & Rahmenbedingungen Andreas Zitz, Principal Engineer, TE Connectivity |
| 10:45 | Nasse und trockene Extraktionsverfahren: Eine Vergleichsstudie an Elektrobauteilen – Vorstellung der untersuchten Extraktionsverfahren – Differenzierte Betrachtung der Ergebnisse Yasemin Müller, Consulting Analytik, CleanControlling |
| 11:10 | Pause |
| 11:25 | Wirksamkeitsstudie von unterschiedlichen Bauteilreinigungsverfahren – Vorstellung der unterschiedlichen Reinigungsverfahren – Unterschiedliche Arten der Ergebnisdarstellung – Beurteilung des Reinigungseffektes Frank Petri, Technische Sauberkeit und Stammdaten, KOSTAL Kontakt Systeme |
| 11:55 | Verhalten von Partikeln im Hochspannungsfeld – Versuchsaufbau – Visualisierung der Partikelbewegung mit High Speed Aufnahmen Jürgen Frey, Director Production Engineering, TDK Electronics |
| 12:15 | Diskussionsrunde Digitalisierung und Automatisierung in der Technischen Sauberkeit – Analyseverfahren/ Bauteilreinigungsverfahren Moderation: Dr. Marc Nikolussi |
| 12:45 | Pause |
| 13.15 | Keynote Neue Technologie für die Analyse der Technischen Sauberkeit – Schrittinnovation oder Gamechanger? – Was macht die neue Kameratechnologie so effizient? – Möglichkeiten der neuen ZEISS Software ZEN core Technical Cleanliness Analysis in der Datenauswertung – Vorteile und Möglichkeiten im Zusammenspiel mit einer GxP Umgebung Dr. Jati Kastanja, Product Manager – Field of Business Software, Senior Expert, Carl Zeiss Microscopy |
| 13:45 | Sauberkeitskonzepte: Anforderungen, Umsetzung und Weiterentwicklung – Aktuelle Sauberkeitsanforderungen für Automobilanwendungen – Umsetzung eines Sauberkeitskonzepts von der Analyse bis zum Roll-out – Risikobewertung und Vermeidung des einen kritischen Partikels?! Dr. Helmut Schweigart, Leiter Reliability & Surfaces, ZESTRON |
| 14:05 | TAIFUN-CLEAN – Berührungslose Oberflächenreinigung setzt Maßstäbe für Technische Sauberkeit – Dreamteam: Wie elektrostatische Kontrolle, pulsierende Druckluft und Absaugung sich ergänzen – Geometrie welcome: Wie selbst komplexe Bauteile, Sauberkeitsanforderungen erfüllen – Inline oder Insel?: Wege zur Integration von Reinigungssystemen in Fertigungsprozesse Thomas Liebscher, Leiter Vertrieb, KIST + ESCHERICH |
| 14:25 | Vergleichsversuche mit partikulären Messsystemen – Aufbau des Labor-Ringversuchs – Ergebnisse und Erkenntnisse – Ausblick Stefan Haberzettl, Geschäftsstellenleitung, Cleaning Excellence Center |
| 14:45 | Markt- und Trendstudie zur Technischen Sauberkeit und zur Behältersauberkeit – Welche Relevanz hat die Bauteilsauberkeit zwischen Kostendruck und Sauberkeitsanforderungen? – Sollten Behälter genauso behandelt werden wir Bauteile? – Was ist der Stand bezüglich der Grenzwertdefinition, Gestaltung, Analyse und Reinigung. Welche Trends sind erkennbar? Dr. Ronny Zwinkau, CEO, Partikel A.R.T. und stellv. Institutsleiter des Inst. für Produktionssysteme der TU Dortmund |
| 15:05 | Diskussionsrunde Innovationspotenzial in der Technischen Sauberkeit: Wo geht die Reise hin? Moderator: Volker Burger |
| 15:35 | Wrap up & Verabschiedung |
Wir danken unseren Premium Partnern
Rückblick Technische Sauberkeit 2019
Die 2. Fachkonferenz „Technische Sauberkeit“ lockte am 19. November 2019 viele Personen in das Mövenpick-Hotel in Stuttgart und bot aktuelle Informationen und viel Raum für Networking.
Experten berichteten wie im Fertigungsprozess standardisierte und vergleichbare Sauberkeitsanalysen durchgeführt werden. Neben praktischen Erfahrungsberichten wurde u. a. das Risikoabschätzungstool des ZVEI-Arbeitskreises Bauteilsauberkeit vorgestellt, das ein wissensbasiertes Risikomanagement auf ppm-Level ermöglicht.
Spannende Vorträge lieferten u. a. namhafte Referenten von TE Connectivity, Hella, KOSTAL, Bosch, und TDK Electronics AG.
Unten finden Sie einige Impressionen und das Veranstaltungsprogramm.
Impressionen
2. Fachkonferenz „Technische Sauberkeit“ am 19. November 2019
Teilnehmerstimmen 2019
| ab 9:00 | Empfang |
| 09:30 | Begrüßung Dr. Marc Nikolussi, Assistent und Büroleiter des Bereichsvorstands, Robert Bosch |
| 09:40 | Keynote Technische Unsauberkeit. Ein Produkthaftungsrisiko Prof. Dr. Thomas Klindt, Rechtsanwalt, Noerr |
| 10:10 | Filmische Verunreinigungen bestimmen – der AdhäSa-Ansatz Dr. Markus Rochowicz, Gruppenleiter, Fraunhofer IPA |
| 10:40 | Kaffeepause |
| 11:15 | Luft als Extraktionsmedium bei Sauberkeitsprüfungen gemäß VDA19 Teil 1 Volker Burger, CEO, CleanControlling |
| 11:45 | Whisker – Überblick und Betrachtung im Kontext der Technischen Sauberkeit Dr. Erika Crandall, Senior R&D Product Development Engineer, TE Connectivity |
| 12:15 | Mittagessen |
| THEMENSCHWERPUNKTE DES ZVEI-LEITFADENS | |
| 13:15 | Ist-Situation der technischen Sauberkeit in der Elektroindustrie Ralf Kuballa, Lead Expert Technical Cleanliness, Hella |
| 13:45 | Datenmanagement und Visualisierung Frank Petri, Leiter Kalkulation Sonderprojekte, KOSTAL |
| FUNKTIONSSICHERHEIT IN DER ELEKTROTECHNIK | |
| 14:15 | Das Gap Dilemma: Metallpartikel = Killerpartikel? Dr. Marc Nikolussi, Assistent und Büroleiter des Bereichsvorstands, Robert Bosch |
| 14:45 | Kontaktwahrscheinlichkeit Harald Hundt, Leiter Entwicklung Induktive Bauelemente, Vacuumschmelze Andreas Zitz, Principal Engineer, TE Connectivity |
| 15:15 | Kaffeepause |
| 15:45 | Das ZVEI-Risikoabschätzungstool Thomas Zeike, Technical Cleanliness Manager, CONTINENTAL |
| 16:15 | Ausreisserregelung und Eskalation Jürgen Frey, Fertigungstechnik Magnetics, TDK Electronics AG |
| 16:45 | Abschließende Podiumsdiskussion Zero failure vs. Risikoabschätzungsansatz Teilnehmer: Referenten des Nachmittags Moderation: Dr. Helmut Schweigart, Leiter Technologieentwicklung, ZESTRON Europe |
| ca. 17:15 | Ende der Veranstaltung und Verabschiedung |
Programm des Vorab-Seminars „Ionische Kontamination“ am 18.11.2019
Vorabseminar „Ionische Kontamination“, Referent: Dr. Helmut Schweigart
Referent: Dr. Helmut Schweigart, Leiter Technologieentwicklung, ZESTRON Europe
12:00 Empfang und Registrierung
12:30 Gemeinsames Mittagessen & Get-together
13:35 Ionische Kontaminationsmessung alias ROSE in der Normung
- Ionenäquivalenzmessung in J-STD 001 Automotive Addendum und IPC 60142
- Erläuterung des IPC WP 019 anhand einer Fallstudie
- Vorgaben im Automotivebereich
14:15 Ionenchromatographie gemäß IPC 9202
- Durchführung und Interpretation nach den IPC Vorgaben
- Erfahrungen zum Einfluß der Extraktionsbedingungen auf das Ergebnis
15:00 Kaffee- und Teepause
15:30 Sonderverfahren zur Risikoerkennung durch ionische und filmische Verunreinigungen
- C3 im Vergleich zu ROSE, Ionenchromatographie und Klimawiderstandsmessung
- Impedanzspektroskopie zur Risikoanalyse von nichtmetallischen Partikeln und filmischen Verunreinigungen
- Ausblick auf potentielle Änderungen bei IPC und in der IEC Normung
16:30 Handhabung des Themas in Produktion und Lieferkette
- Quellen ionischer und filmischer Verunreinigungen
- Spezifikationen für ionische und filmische Verunreinigungen in der Lieferkette
- Abschlussdiskussion
17:30 Wrap up und Verabschiedung
Wir danken den Partnern der 2. Fachkonferenz „Technische Sauberkeit“ 2019
